从top和block级别分别看clock的toggle情况(DFT)
1、背景针对于大型的SOC芯片DFT owner往往会采用基于hierarchy的测试架构。从时钟路径上来看在top和block中均插入了一个OCC这两个OCC表面上看是处于级联的状态但是通过合理的信号控制可以做到这两个OCC同时只会有一个会生效。当需要测试block中的path时top的OCC会被bypass掉而当测试top与block的交互path时block的OCC会被bypass掉。接下来就将介绍不同情况下的时钟控制情况。2、OCC的时钟控制从测试对象上看分为topblock的测试和topgraybox的测试从测试模式上看分为stuck mode和transition mode即这里需要考虑四种不同情况下的OCC时钟控制情况1测试故障点存在于block内部测试模式为stuck mode2测试故障点存在于block内部测试模式为transition mode3测试故障点存在于top以及top与block交互处测试模式为stuck mode4测试故障点存在于top以及top与block交互处测试模式为transition mode2.1 测试故障点存在于block内部测试模式为stuck mode2.2 测试故障点存在于block内部测试模式为transition mode2.3 测试故障点存在于top以及top与block交互处测试模式为stuck mode2.4 测试故障点存在于top以及top与block交互处测试模式为transition mode