DISCO/TSK机型切割道与切痕标注及对称中心定位系统摘要在半导体晶圆划片工艺中，切割道（Scribe Line）与切痕（Kerf）的精确检测与定位对于保证芯片分割质量、减少崩边及提高良率至关重要。本文针对DISCO、TSK等主流划片机机型，提出了一套基于图像处理的切割道与切痕自动标注方法，并利用对称图形检测技术实现切割区域中心的高精度定位。系统首先对采集的晶圆表面图像进行预处理，包括灰度变换、自适应滤波和边缘增强；随后采用改进的概率霍夫变换检测切割道直线，结合形态学操作提取切痕细节；通过分析切割道网格的对称性，利用反射对称匹配和相位相关法确定对称轴，最终计算出切割道的几何中心。本文提供了完整的Python代码实现（基于OpenCV和NumPy），详细解释了每个模块的原理与参数选择，并通过多组模拟与真实图像验证了算法的鲁棒性。实验结果表明，该系统能够自动标注切割道与切痕，对称中心定位误差小于0.5像素，满足工业在线检测的精度要求。关键词：切割道检测；切痕标注；对称图形；中心定位；DISCO；TSK；图像处理；霍夫变换1. 引言1.1 半导体划片工艺概述半导体制造的后道工序中，晶圆划片（Dicing）是将整片晶圆分割成独立芯片的关键步骤。DISCO（日本迪思科）和TSK（日本东京精密）是全球市场占有率最高的划片机品牌，其设备通常采用高速旋转的金刚石刀片沿晶圆上的切割道进行全切或半切。切割道是芯片之间的预留间隙，宽度通常为60~100 μm；切痕则是刀片实